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led溫度沖擊檢測箱/隔層架冷熱沖擊試驗箱

led溫度沖擊檢測箱/隔層架冷熱沖擊試驗箱

簡要描述:

led溫度沖擊檢測箱/隔層架冷熱沖擊試驗箱主要適合用于電工電子電器機械等零組件、自動化零部件、防工業(yè)行業(yè)、航空航天研究所、兵工業(yè)、通訊產(chǎn)品或組件、汽車成品或配件、金屬材料、化學材料、五金塑料、LED、LCD光電、光伏、照明、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對冷、熱溫的快速反復抵抗力及工業(yè)產(chǎn)品處于熱脹冷縮的環(huán)境時所出現(xiàn)的化學變化或者物理傷害,可確認工

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led溫度沖擊檢測箱/隔層架冷熱沖擊試驗箱主要適合用于電工電子電器機械等零組件、自動化零部件、防工業(yè)行業(yè)、航空航天研究所、兵工業(yè)、通訊產(chǎn)品或組件、汽車成品或配件、金屬材料、化學材料、五金塑料、LED、LCD光電、光伏、照明、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對冷、熱溫的快速反復抵抗力及工業(yè)產(chǎn)品處于熱脹冷縮的環(huán)境時所出現(xiàn)的化學變化或者物理傷害,可確認工業(yè)產(chǎn)品的質(zhì)量,從的IC到重機械的組件,可作為工業(yè)行業(yè)眾多產(chǎn)品改進品質(zhì)的依據(jù)或參考。以便考核產(chǎn)品的適應性或?qū)y試產(chǎn)品的行為作出評價。是新產(chǎn)品研發(fā)、樣機實驗、產(chǎn)品合格鑒定試驗過程*的重要試驗手段。

led溫度沖擊檢測箱/隔層架冷熱沖擊試驗箱的型號與簡易參數(shù):

沖擊試驗箱型號

AP-CJ-80

AP-CJ-150

AP-CJ-250

AP-CJ-480

內(nèi)箱尺寸

50×40×40

60×50×50

70×60×60

80×80×75

外箱尺寸約(以實際尺寸為準)

161×178×166

183×178×188

192×205×200

202×225×215

高箱儲存箱預熱溫度范圍

-60℃~+200℃

低溫儲存箱預冷溫度范圍

-10℃~-55℃;-10℃~-65℃;-10℃~-75℃;

測試塑料產(chǎn)品可選擇溫度范圍

高溫:RT~+150℃

低溫:RT~-40℃;RT~-55℃;RT~-65℃;

 

 

性能

溫度穩(wěn)定度

±2℃

移動與歸復時間

移動時間約10秒鐘,恢復時間約3~5 min

高箱儲存箱升溫時間

150

150

150

150

min

40

40

40

40

高箱儲存箱降溫時間

-55  -65  -75

-55  -65  -75

-55  -65  -75

-55  -65  -75

min

70   80  90

80   90  100

90  100  110

100  110  120

led溫度沖擊檢測箱/隔層架冷熱沖擊試驗箱滿足的標準有以下:
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分試驗方法 試驗A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗;GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——箱式;SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備;GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高低溫試驗導則;GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則

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